XRF貴金屬分析儀由高能X射線激發原子電子層，使得原子核外電子發生躍遷，造成二次X射線能量釋放，因不同的元素釋放的能量具有不同特性，探測系統測量這些能量和數量，從而計算元素含量。

貴金屬檢測儀目前使用XRF分析儀對貴金屬進行化學成份分析及純度成色判斷已經成為一種廣泛應用、極受歡迎，并且有國家標準的支持，且性能可靠的方法。

PM-450貴金屬分析儀由高能X射線激發原子電子層，使得原子核外電子發生躍遷，造成二次X射線能量釋放，因不同的元素釋放的能量具有不同特性，探測系統測量這些能量和數量，從而計算元素含量。

PM-350貴金屬分析儀對貴金屬進行化學成份分析及純度成色判斷已經成為一種廣泛應用、極受歡迎，并且有國家標準的支持，且性能可靠的方法。與火花試金法和化學試劑測試法相比，使用XRF對貴金屬進行分析是一種更迅速、更經濟的多元素檢測方法。